Si Substratum per Semicera elementum essentiale est in productione machinarum semiconductorium summus perficiendi. Substructum ab alto puritatis Siliconis (Si), hoc subiectum praebet eximiam uniformitatem, stabilitatem, et optimam conductivity, faciens specimen pro amplis applicationibus provectis in industria semiconductoris. Utrum usus in Si Wafer, SiC Substratum, SOI Wafer, vel SiN productio Substratum, Semicera Si Substratum qualitatem constantem et praestantiorem exsequatur, ut in incrementis recentiorum electronicarum et materiarum scientiarum exigentiis occurrat.
Singularis euismod cum High puritate et praecisione
Semicerae Si Substratum fabricatur processibus provectis utens, qui altam puritatem et strictam dimensionem dicionis curant. Subiectum fundamentum est ad producendas varias materias summus perficientur, inclusas Epi-Wafers et AlN Wafers. Praecisio et uniformitas Si Substrati faciunt optimam electionem ad creandum graciles membranas epitaxiales et alia critica composita in productione semiconductorum proximae generationis. Sive cum Gallium Oxide (Ga2O3) vel aliis materiis provectis laboras, Semicerae Si Substratum supremos gradus fidei et effectus efficit.
Applications in Vestibulum Semiconductor
In industria semiconductoris, Si Substratum a Semicera adhibitum est in lato applicationum ordine, incluso Si Wafer et SiC productio Substratorum, ubi stabilem ac firmam basim praebet pro stratis activae depositionis. Substratum munus criticum agit in fabricando SOI Wafers (Silicon De Insulator), quae necessaria sunt ad microelectronics provectos et circulos integrandos. Praeterea Epi-lagana (lagana epitaxialia) super Si Substrata constructa integra sunt in machinis semiconductoribus summus faciendis producendis ut potentia transistores, diodes et circuitus integrales.
Si Substratum etiam adiuvat fabricam machinarum utens Gallium Oxide (Ga2O3), materiam amplam bandgap promittentem ad applicationes electronicas in potentia electronicas adhibendas. Accedit, compatibilitas Semicerae Si Substratae cum AlN Wafers et aliis subiectis provectis providet ut variis exigentiis magnorum technicis industriarum occurrere possit, eamque optimam solutionem efficiendi ad incisionem machinarum in partibus telecommunicationibus, automotivis, et industrialibus elaborandis. .
Reliable and consistent Quality for High-Tech Applications
The Si Substratum by Semicera diligenter machinatur ut occurrit exigentiis rigoris semiconductoris fabricationis. Eximia eius integritas structuralis et proprietas superficiei qualis summus efficiunt specimen materiae ad usum in systematis lagani pro lagano invehendo, tum ad altas praecisiones conficiendas in machinis semiconductoribus stratis. Facultas subiecti ad conservandam qualitatem consistentiam sub variis processibus conditionibus minimos efficit defectus, augens fructus et effectus finalis uber.
Cum superiore scelerisque conductivity, vi mechanica, et summa puritate, Semicerae Si Substratum est materia electionis ad artifices spectantes ad summa signa praecisionis, fidelitatis, et perficiendi in productione semiconductoris.
Elige semicerae Si Substratum pro Summus Puritas, Summus euismod Solutions
Pro fabrica in semiconductore industriae, Si Substratum e Semicera praebet solutionem robustam, altam qualitatem pro amplis applicationibus, a productione Si Wafer usque ad creationem Epi-Wafers et SOI Wafers. Singulari puritate, praecisione et firmitate, haec subiecta efficit ut acies semiconductoris machinas efficiat, diuturnum effectum et optimalem efficientiam procurans. Semicera elige pro necessitates tuas Si subiectas, et confide in productum destinato ad occurrendum postulatis technologiarum crastinarum.
Items | Productio | Inquisitionis | phantasma |
Crystal Parameters | |||
Polytypus | 4H | ||
Superficiem sexualis errore | <11-20 >4±0.15° | ||
Electrical Parameters | |||
Dopant | n-genus Nitrogenium | ||
Resistentia | 0.015-0.025ohm·cm | ||
Mechanica Parametri | |||
Diameter | 150.0±0.2mm | ||
Crassitudo | 350±25 μm | ||
Prima plana propensionis | [1-100]±5° | ||
Prima plana longitudo | 47.5±1.5mm | ||
Secundarium plana | Nullus | ||
TTV | ≤5 μm | ≤10 μm | ≤15 μm |
LTV | ≤3 μm(5mm*5mm) | ≤5 μm(5mm*5mm) | ≤10 μm(5mm*5mm) |
Arcum | -15μm ~ 15μm | -35μm ~ 35μm | -45μm ~ 45μm |
Warp | ≤35 μm | ≤45 μm | ≤55 μm |
Frons (Si-face) asperitas (AFM) | Ra≤0.2nm (5μm*5μm) | ||
Structure | |||
Micropipe density | <1 ea/cm2 | <10 ea/cm2 | <15 ea/cm2 |
Metallum immunditiae | ≤5E10atoms/cm2 | NA | |
BPD | ≤1500 ea/cm2 | ≤3000 ea/cm2 | NA |
TSD | ≤500 ea/cm2 | ≤1000 ea/cm2 | NA |
Ante Quality | |||
Front | Si | ||
Superficiem metam | Si-face CMP | ||
Particulas | ≤60ea/laganum (size≥0.3μm) | NA | |
Exasperat | ≤5ea/mm. Cumulativo longitudo ≤Diameter | Cumulative length≤2*Diameter | NA |
Orange cortices / foveas / maculas / striations / rimas / contagione | Nullus | NA | |
Ora eu / indents / fractura / hex p | Nullus | ||
Polytypus areis | Nullus | Cumulativo area≤20% | Cumulativo area≤30% |
Ante laser vestigium | Nullus | ||
Back Quality | |||
Retro metam | C-faciem CMP | ||
Exasperat | ≤5ea/mm,Cumulative length≤2*Diameter | NA | |
Retro defectus (ore eu / indents) | Nullus | ||
Retro asperitatem | Ra≤0.2nm (5μm*5μm) | ||
Back laser notati | I mm (a summo ore) | ||
Ore | |||
Ore | Chamfer | ||
Packaging | |||
Packaging | Epi-paratum in vacuo packaging Multi laganum cassette packaging | ||
*Nota "NA" significat petitionem nullam Items not mentioned may refer to SEMI-STD. |